XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）
上周上了一点XPS的课程，印象深刻，非常有用。之前为样品做过XPS，但是分析的时候不是很清楚。这个课是岛津公司派人来上的，讲的比较系统。做一些总结。
SEM的分辨率比较低，只能识别微米级别的，却是最直观的，二次电子是直接反射形成的影像，类似于自然光成像。XPS尺度很小，但是图谱需要解析，不太直观。
分类： 科研
啊，要毕业
最近就要毕业了，虽然说，这并不是结束，只是刚刚开始。然而却，莫名其妙有种憋足了劲干一把，马上一切搞定了的感觉。
非常“幸运”地抽到了学生代表这份殊荣，即将答辩结束的party上代表英语项目毕业生说两句话，天道好轮回，不知道说出“日本的空气都比中国甜”这种话，是否能出名？
Candy
Candy是我们实验室的澳门女生，四月进入实验室，上周五把十八烷胺喷到了脸上还有眼睛里，今天我和Ked、礼子去医院看她。因为今天她从重症监护室转到了普通病房。
3D Max 纳米材料球示意图
做科研也要3Dmax？
我妈是搞家装的，有时候会问我CAD的事情，又一次甚至问我会不会3Dmax，我当时没好气地说：那玩意儿做游戏才会用吧，我又不开发游戏。flag就这样立了。
ImageJ 统计粒径尺寸
两种方法：
There are two methods:
1.直线工具
1. Straight line tool
设置scale以后。
按照目测直径逐一 拖一下，每次都ctrl+M。适用于比较小，圆形的颗粒。
After setting the scale in Analyze, choose each particle’s diameter by straight line tool. Ctrl+M to record the value. This method is suitable for the little round particles.
2.椭圆
2. Elllipse tool
i.选取
i.choose particles
用椭圆工具选中一个颗粒，调整至合适的大小，尽量和颗粒的大小相近。然后ctrl+T,调出统计面板，面板上的show all 最好勾选，可以知道哪个统计过了。
如果不满意某个，点一下那个圆，面板上Delete。
Choose the particles with ellipse tool, ctrl+T to record the particle on the panel. The ellipse should be close to the real particle as possible. Check “show all” in the panel to show the recorded particles. Click “Delete” to remove the chosen ellipse.
FFT变换与STEM结果分析
工具：ImageJ
Tool: ImageJ
待分析图样：STEM Pt合金花样
Pattern: STEM or Pt-alloy catalyst
在分析纳米颗粒的结构的时候，有时候会用到STEM。可以直观的看到晶面间距，标定晶面间距以后，就可以根据d值确定hkl值。以下图为例。
STEM is commonly used for measure the d value of the different facets to confirm the crystalline structure. The example is shown in beneath:
